Your browser does not support JavaScript!

Αρχική    Μελέτη της ετεροεπαφής SrCu2O2/Si  

Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες

Προσθήκη στο καλάθι
[Προσθήκη στο καλάθι]
Κωδικός Πόρου 000348477
Τίτλος Μελέτη της ετεροεπαφής SrCu2O2/Si
Άλλος τίτλος Study of Heterojunction SrCu2O2/Si
Συγγραφέας Λουλουδάκης, Δημήτρης
Σύμβουλος διατριβής Τζανετάκης, Παναγιώτης
Απεραθίτης Ηλίας
Περίληψη Αρχικά μελετήσαμε ένα δείγμα κρυσταλλικής ομοεπαφής p-i-n AlGaAs με πολλαπλά πηγάδια GaAs/AlGaAs στην i-περιοχή που γνωρίζαμε ότι δουλεύει καλά για να έχουμε μια εικόνα του ιδανικού. Το SrCu2O2 (SCO) είναι ένα καινούριο υλικό που δεν έχει μελετηθεί μέχρι τώρα καθόλου. Μελετήθηκε το SrCu2O2 με τρεις διαφορετικές ποσότητες προσμίξεων: SCO, SCO:Ba(3%) και SCO:Ba(6%). Οι μετρήσεις που κάναμε ήταν ηλεκτρικές, δηλαδή μετρήσεις ρεύματος-τάσης και χωρητικότητας-τάσης συναρτήσει της θερμοκρασίας. Το υπόστρωμα με το οποίο γίνετε και η επαφή είναι Si τύπου n ή τύπου p. Αρχικά τοποθετήσαμε το υλικό μας με την βοήθεια ενός λέιζερ 248nm πάνω σε n-Si (δείγμα tf112) και παρατηρήσαμε ότι η επαφή που δημιουργήθηκε ήταν μια p-n, με το στρώμα SrCu2O2 να έχει συμπεριφορά τύπου p. Στη συνέχεια μελετήσαμε τα δείγματα που είχαν φτιαχτεί με λέιζερ 308nm πάνω σε υπόστρωμα p-Si (δείγματα tf193.1, tf193.2, tf196.1, tf196.2, tf197.1 και tf197.2) και παρατηρήσαμε ότι η επαφή που δημιουργήθηκε ήταν μια επαφή n-p, με το SrCu2O2 να έχει τον ρόλο αυτή την φορά του n τύπου ημιαγωγού. Για να γίνει ξεκάθαρο τελικά τι τύπου είναι το SrCu2O2 μελετήσαμε κάποια δείγματα (tf204.2 και tf205.2) που είχαν κατασκευαστεί με το λέιζερ των 308nm πάνω στο πυρίτιο τύπου p. Σε αυτή την περίπτωση δημιουργήθηκε μια επαφή p-n, με το SrCu2O2 να έχει την συμπεριφορά της p μεριάς. Έτσι είχε φτιαχτεί μια επαφή p-p. Οπότε το SrCu2O2 που είχε κατασκευαστεί ήταν τύπου p-. Επίσης έγιναν μετρήσεις TLM σε δείγματα ZnN, SrCu2O2 και GaAs για να εξοικειωθούμε με τις μετρήσεις αλλά και ελέγξουμε την ποιότητα των μεταλλικών επαφών. Στα δείγματα SrCu2O2 η αντίσταση είναι πολύ μεγάλη και Έτσι δεν μπόρεσε να γίνει ανάλυση των παραμέτρων που μπορούν να βγουν από αυτές τις μετρήσεις.
Φυσική περιγραφή 85 σ. : εικ. ; 30 εκ.
Γλώσσα Ελληνικά
Θέμα Diode
Lithography
TLM
Transmission line model
Δίοδος
Λιθογραφία
Ημερομηνία έκδοσης 2009-07-24
Συλλογή   Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Φυσικής--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης
  Τύπος Εργασίας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης
Εμφανίσεις 179

Ψηφιακά τεκμήρια
No preview available

Προβολή Εγγράφου
Εμφανίσεις : 8