Your browser does not support JavaScript!

Αρχική    Growth and optical characterization of indium oxide (InOX) AND Zinc oxide (ZnO) Films  

Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες

Προσθήκη στο καλάθι
[Προσθήκη στο καλάθι]
Τίτλος Growth and optical characterization of indium oxide (InOX) AND Zinc oxide (ZnO) Films
Άλλος τίτλος Ανάπτυξη και οπτικός χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων InOX και ZnO
Συγγραφέας Πανάγου, Σωτήριος Β.
Σύμβουλος διατριβής Κυριακίδης, Γεώργιος
Περίληψη Χρησιμοποιώντας dc magnetron εναπόθεση σε υπόστρωμα corning glass (Corning 1707F low alkali) με μεταλικούς στόχους In και Zn ετοιμάσαμε λεπτά υμένια οξειδίου του Ινδίου και οξειδίου του Ψευδάργυρου Χρησιμοποιώντας φασματόμετρο UV/VIS πήραμε το φάσμα διάδοσης, έτσι ώστε να υπολογίσουμε τις οπτικές σταθερές των λεπτών υμενίων σε διαφορετικά πάχη καθώς και τον υπολογισμό του ενεργειακού χάσματος. Για το οξείδιο του Ινδίου, ο δείκτης διάθλασης είχε μέση τιμή 1.99 με ενεργειακό χάσμα στην περιοχή των 3.5 eV. Για το οξείδιο τον ψευδαργύρου, ο δείκτης διάθλασης είχε μέση τιμή 1.89 με ενεργειακό χάσμα στην περιοχή των 3.3 eV. Χρησιμοποιήσαμε φασματοσκοπία ελλειψομέτρου σε λεπτά υμένια οξειδίου του Ψευδαργύρου (200nm, 250nm), για την δημιουργία κεντρικού μοντέλου υπολογισμού οπτικών σταθερών, πάχους καθώς και της διηλεκτρικής σταθεράς.
Γλώσσα Αγγλικά
Θέμα Ellipsometric
Fasmatoscopy
Oxide
Sputtering
Ελλειψόμετρο
Εναπόθεση
Οξείδιο
Φασματόμετρο
Ημερομηνία έκδοσης 2015-03-20
Συλλογή   Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Φυσικής--Πτυχιακές εργασίες
  Τύπος Εργασίας--Πτυχιακές εργασίες
Εμφανίσεις 155

Ψηφιακά τεκμήρια
No preview available

Προβολή Εγγράφου
Εμφανίσεις : 22