
Αρχική
Απεικόνιση υψηλής ανάλυσης με την μέθοδο slice imaging, ατόμων H+ που προκύπτουν από την φωτόλυση του πυρρολίου στα 193.3nm, 240nm και 250νnm
Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες
|
||||
Κωδικός Πόρου | uch.chemistry.msc//2006sakellariou | |||
Τίτλος | Απεικόνιση υψηλής ανάλυσης με την μέθοδο slice imaging, ατόμων H+ που προκύπτουν από την φωτόλυση του πυρρολίου στα 193.3nm, 240nm και 250νnm | |||
Άλλος τίτλος | High resolution H-ATOM photofragment slice imaging following the photolysis of Pyrrole at 240nm,250nm and 193.3nm | |||
Συγγραφέας | Σακελλαρίου, Ιωάννης | |||
Περίληψη |
|
|||
Θέμα | Απεικόνιση,Μετασχηματισμός Abel,Αδιαβατική μετάβαση, Θόρυβος,Προσέγγιση Born Oppenheimer, Παράμετρος ανισοτροπίας,Δυναμική μοριακών αντιδράσεων, Normal mode,Μοριακή δέσμη, Δέσμη ιόντων,Πολιφωτονικός ιονισμός, ion lens,Slice Imaging, extractor,Velocity mapping, repeller,Μονό πεδίο, baffle,Διακριτική ικανότητα, Θάλαμος πηγή,Achromaticity, θάλαμος ανίχνευσης,Κινηματική, Πόλωση,Χρονική καθυστέρηση, R.E.M.P.I.,Γωνιακή κατανομή, Φέρον αέριο,Κατανομή ταχυτήτων, Φωτόλυση,Φωτοϊονισμός, Δυναμική ενεργειακή καμπύλη,Rydberg tagging, Cluster,Ενεργός διατομή απορρόφησης | |||
Ημερομηνία έκδοσης | 2006-11-01 | |||
Ημερομηνία διάθεσης | 2007-03-12 | |||
Συλλογή | Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Χημείας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | |||
Τύπος Εργασίας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | ||||
Εμφανίσεις | 238 |
Ψηφιακά τεκμήρια | |
---|---|
![]() |
Κατέβασμα Εγγράφου |