Your browser does not support JavaScript!

Αρχική    Study of dielectric deposition in two-dimensional semiconductors by the method of atomic layer deposition  

Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες

Προσθήκη στο καλάθι
[Προσθήκη στο καλάθι]
Κωδικός Πόρου 000446157
Τίτλος Study of dielectric deposition in two-dimensional semiconductors by the method of atomic layer deposition
Άλλος τίτλος Μελέτη εναπόθεσης διηλεκτρικού σε δισδιάστατους ημιαγωγούς με τη μέθοδο εναπόθεσης ατομικών στρωμάτων
Συγγραφέας Φανουράκης, Γεώργιος
Σύμβουλος διατριβής Σαββίδης, Παύλος
Δεληγεώργης, Γεώργιος
Μέλος κριτικής επιτροπής Κιοσέογλου, Γεώργιος
Φυσική περιγραφή 78 σ. : είκ.(μερ. εγχρ.) ; 30 εκ.
Γλώσσα Αγγλικά
Θέμα 2D materials
High-K dielectrics
Ημερομηνία έκδοσης 2022-03-18
Συλλογή   Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Επιστήμης και Τεχνολογίας Υλικών--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης
  Τύπος Εργασίας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης
Εμφανίσεις 17

Ψηφιακά τεκμήρια
No preview available

Κατέβασμα Εγγράφου
Προβολή Εγγράφου
Εμφανίσεις : 1