Αρχική
Study of dielectric deposition in two-dimensional semiconductors by the method of atomic layer deposition
Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες
|
||||
| Κωδικός Πόρου | 000446157 | |||
| Τίτλος | Study of dielectric deposition in two-dimensional semiconductors by the method of atomic layer deposition | |||
| Άλλος τίτλος | Μελέτη εναπόθεσης διηλεκτρικού σε δισδιάστατους ημιαγωγούς με τη μέθοδο εναπόθεσης ατομικών στρωμάτων | |||
| Συγγραφέας | Φανουράκης, Γεώργιος | |||
| Σύμβουλος διατριβής |
Σαββίδης, Παύλος
Δεληγεώργης, Γεώργιος |
|||
| Μέλος κριτικής επιτροπής | Κιοσέογλου, Γεώργιος | |||
| Φυσική περιγραφή | 78 σ. : είκ.(μερ. εγχρ.) ; 30 εκ. | |||
| Γλώσσα | Αγγλικά | |||
| Θέμα | 2D materials | |||
| High-K dielectrics | ||||
| Ημερομηνία έκδοσης | 2022-03-18 | |||
| Συλλογή | Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Επιστήμης και Τεχνολογίας Υλικών--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | |||
| Τύπος Εργασίας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | ||||
| Εμφανίσεις | 376 | |||
| Ψηφιακά τεκμήρια | |
|---|---|
|
Κατέβασμα Εγγράφου |
