E-Locus - Ιδρυματικό Καταθετήριο Πανεπιστημίου Κρήτης

Αρχική Συλλογές Τύπος Εργασίας Πτυχιακές εργασίες

Πτυχιακές εργασίες

Τρέχουσα Εγγραφή: 830 από 1659

[Προσθήκη στο καλάθι]

Τίτλος

Growth and optical characterization of indium oxide (InOX) AND Zinc oxide (ZnO) Films

Άλλος τίτλος

Ανάπτυξη και οπτικός χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων InOX και ZnO

Συγγραφέας

Πανάγου, Σωτήριος Β.

Σύμβουλος διατριβής

Κυριακίδης, Γεώργιος

Περίληψη

Χρησιμοποιώντας dc magnetron εναπόθεση σε υπόστρωμα corning glass (Corning 1707F low alkali) με μεταλικούς στόχους In και Zn ετοιμάσαμε λεπτά υμένια οξειδίου του Ινδίου και οξειδίου του Ψευδάργυρου Χρησιμοποιώντας φασματόμετρο UV/VIS πήραμε το φάσμα διάδοσης, έτσι ώστε να υπολογίσουμε τις οπτικές σταθερές των λεπτών υμενίων σε διαφορετικά πάχη καθώς και τον υπολογισμό του ενεργειακού χάσματος. Για το οξείδιο του Ινδίου, ο δείκτης διάθλασης είχε μέση τιμή 1.99 με ενεργειακό χάσμα στην περιοχή των 3.5 eV. Για το οξείδιο τον ψευδαργύρου, ο δείκτης διάθλασης είχε μέση τιμή 1.89 με ενεργειακό χάσμα στην περιοχή των 3.3 eV. Χρησιμοποιήσαμε φασματοσκοπία ελλειψομέτρου σε λεπτά υμένια οξειδίου του Ψευδαργύρου (200nm, 250nm), για την δημιουργία κεντρικού μοντέλου υπολογισμού οπτικών σταθερών, πάχους καθώς και της διηλεκτρικής σταθεράς.

Γλώσσα

Αγγλικά

Θέμα

Ellipsometric

Fasmatoscopy

Oxide

Sputtering

Ελλειψόμετρο

Εναπόθεση

Οξείδιο

Φασματόμετρο

Ημερομηνία έκδοσης