Αρχική
Αναζήτηση
Αποτελέσματα - Λεπτομέρειες
Εντολή Αναζήτησης : Συγγραφέας="Κιοσέογλου" Και Συγγραφέας="Γεώργιος"
Τρέχουσα Εγγραφή: 14 από 66
|
|||||||
| Κωδικός Πόρου | 000446157 | ||||||
| Τίτλος | Study of dielectric deposition in two-dimensional semiconductors by the method of atomic layer deposition | ||||||
| Άλλος τίτλος | Μελέτη εναπόθεσης διηλεκτρικού σε δισδιάστατους ημιαγωγούς με τη μέθοδο εναπόθεσης ατομικών στρωμάτων | ||||||
| Συγγραφέας | Φανουράκης, Γεώργιος | ||||||
| Σύμβουλος διατριβής |
Σαββίδης, Παύλος
Δεληγεώργης, Γεώργιος |
||||||
| Μέλος κριτικής επιτροπής | Κιοσέογλου, Γεώργιος | ||||||
| Φυσική περιγραφή | 78 σ. : είκ.(μερ. εγχρ.) ; 30 εκ. | ||||||
| Γλώσσα | Αγγλικά | ||||||
| Θέμα | 2D materials | ||||||
| High-K dielectrics | |||||||
| Ημερομηνία έκδοσης | 2022-03-18 | ||||||
| Συλλογή | Σχολή/Τμήμα--Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών--Τμήμα Επιστήμης και Τεχνολογίας Υλικών--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | ||||||
| Τύπος Εργασίας--Μεταπτυχιακές εργασίες ειδίκευσης | |||||||
| Μόνιμη Σύνδεση |
https://elocus.lib.uoc.gr//dlib/e/9/e/metadata-dlib-1645692725-385229-17866.tkl
|
||||||
| Εμφανίσεις | 316 | ||||||
| Ψηφιακά τεκμήρια | |
|---|---|
|
Κατέβασμα Εγγράφου |
